非接觸粗糙度輪廓儀
白光干涉微觀形貌及粗糙度儀設計用于高精度微觀形貌分析及高精度粗糙度測量的應用。
3D基本參數(Sa, Sq, St, Smr, ...)
表面校平、鏡像、旋轉
空間濾波器、填充非測量點、設置閾值、修描表面點
除去形狀、標準濾波器
提取感興趣區域、提取輪廓
重采樣
3D視圖、偽色視圖、照片模擬
水平距離和高度測量、階躍高度測量
頂點計數分布、孔和頂點體積測量
頻率分析（平均功率譜密度）
功能分析（Abbott曲線、切片）
公差極限（合格/不合格）顯示
北京瑞科中儀科技有限公司專注半導體材料研究分析設備的研發和應用。專業的團隊，專精的服務，提供理想的解決方案。
我們長期專注于半導體材料研究與分析設備的經銷和代理，為高校、企業科研工作者提供專業的分析解決方案。以專業技能為導向，用科技來解決用戶在科研中遇到的難題。專業的技術工程師和科研工作者進行現場演示和技術交流，打消顧慮，彼此協作，為我國的科研領域譜寫新篇章。
北京瑞科中儀科技有限公司長期代理銷售供應多種分子材料的研究分析設備，其中包括但不限于掃描電子顯微鏡、感應耦合等離子體化學氣相沉積系統、離子束刻蝕機、等離子清洗機、物理氣相沉積系統以及各品牌的光學顯微鏡以及實驗室設備儀器。
客戶至上的服務理念，以人為本的企業文化，我們始終為用戶提供專業的服務！
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