掃描電子顯微鏡SEM
蔡司掃描電鏡是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優異的成像品質。
標配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口，另有用于高級形貌與化學分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。通過升級LaB6高亮度光源將與X射線分析相關的探針電流性能提升至一個全新的水準。
掃描電鏡的五象限背散射電子探測器(BSE)有助于增強低電壓性能及提供更豐富的形態信息。對于非導電樣品，電子束襯管技術可有效提高分辨率。
學術和研究機構使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優異的成像品質，具有處理多種材料的能力。結合SmartSEM 軟件的易用性，使其成為多種研究應用的合適之選，范圍涵蓋半導體和電子技術、地質科學及材料研究。
特點優勢
• 業內的X射線幾何結構以及標配能譜儀和波譜儀(EDS & WDS)
• 五象限背散射電子探測器(BSE)為您提供更豐富的形態信息
• 可變電壓功能用于分析較少制備的非接觸式樣品
• 可移動的顯微鏡樣品臺用于觀察大型樣品
• 配備鎢光源和可供選擇的LaB6 光源
• 優質的生產工藝，曾榮獲2011年英國*佳電子電氣工廠獎以及歐特克產品與工藝大獎
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