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上海瞬渺光電技術有限公司

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少子壽命測量儀BLS-I測試硅棒

產品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:
  • 品牌:
  • 產品類別:智能家居
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2025-02-01 12:00:33
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上海瞬渺光電技術有限公司

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  • 經營模式:其他
  • 商鋪產品:384條
  • 所在地區:
  • 注冊時間:2016-09-10
  • 最近登錄:2023-03-03
  • 聯系人:翟長松先生
產品簡介

詳情介紹

少子壽命測量儀BLS-I測試硅棒

1、用途(高頻光電導)

用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量,除需要有一個測量平面外,對樣塊

體形無嚴格要求,可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體

內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況,是單晶質量的重要檢測項目。

2、設備組成

2.1、光脈沖發生裝置

重復頻率>25次/s 脈寬>60μs 光脈沖關斷時間<0.2-1μs

紅外光源波長:1.06~1.09μm(測量硅單晶) 脈沖電流:5A~20A

如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源

2.2、高頻源

頻率:30MHz 低輸出阻抗 輸出功率>1W

2.3、放大器和檢波器

頻率響應:2Hz~2MHz

2.4、配用示波器

配用示波器:頻帶寬度不低于10MHz,Y軸增益及掃描速度均應連續可調。

3、測量范圍

可測硅單晶的電阻率范圍:ρ≥0.1Ω·㎝(歐姆·厘米),壽命值的測量范圍:5~6000μs


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