舒適的操作條件下進(jìn)行可靠的微觀結(jié)構(gòu)和材料缺陷分析
從三種 Axio Lab.A1 主機(jī)架中為您的應(yīng)用選擇合適的配置：反射光照明和/或透射光照明；用于無(wú)畸變和錐光觀察的 Axio Lab.A1。
在金相學(xué)中，Axio Lab.A1廣泛應(yīng)用于高樣品的檢測(cè)。在結(jié)構(gòu)檢測(cè)時(shí)，可以分析金屬的微觀結(jié)構(gòu)和晶粒大小或者捕獲導(dǎo)致材料缺陷的相關(guān)機(jī)理信息，例如：疲勞度、腐蝕、應(yīng)力裂紋和裂縫。 使用130至1200萬(wàn)像素的數(shù)碼相機(jī)記錄檢測(cè)結(jié)果。
偏光觀察方式可以在法醫(yī)檢測(cè)樣品時(shí)用于表征頭發(fā)、泥土和纖維微觀的結(jié)構(gòu)。使用明場(chǎng)、熒光和偏光顯微技術(shù)分析噴漆和油漆碎片。如果您是一名地質(zhì)學(xué)家，則可以使用該儀器檢測(cè)巖石切面和礦物樣品，例如：用于石油開(kāi)采。在環(huán)境保護(hù)應(yīng)用中，它還能夠用于辨識(shí)諸如石棉纖維材料的微觀結(jié)構(gòu)。
蔡司金相顯微鏡Axio Lab.A1結(jié)構(gòu)圖
產(chǎn)品特點(diǎn) Infocation
技術(shù)特點(diǎn)
4位反射光轉(zhuǎn)盤(pán)選擇微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)的更佳觀察方式。借助壓按模塊增加其他觀察方式。主機(jī)架內(nèi)置有 50W 鹵素?zé)艉碗娫础Ａ硗猓琇ED 光源具有恒定的色溫、低功耗和超長(zhǎng)使用壽命特點(diǎn)。
多用途偏光檢測(cè)
多用途偏光檢測(cè)，Axio Lab.A1是一款多用途偏光顯微鏡，可用于地質(zhì)學(xué)、礦物學(xué)、化石燃料資源的勘探等應(yīng)用。它能夠解決折射率、分裂、雙折射、消光角、光程差及光軸數(shù)量和角度的相關(guān)問(wèn)題。可以使用測(cè)量補(bǔ)償器擴(kuò)展其應(yīng)用范圍。選擇固定式和旋轉(zhuǎn)式補(bǔ)償器來(lái)拍攝大小光程差，以及測(cè)定纖維狀物質(zhì)的光學(xué)特性。360°旋轉(zhuǎn)式載物臺(tái)則用于測(cè)量分裂和消光角。適用于錐光觀察的主機(jī)架展現(xiàn)了檢偏器和 Bertrａnd 透鏡的出色結(jié)合。當(dāng)Bertrand透鏡轉(zhuǎn)入光路時(shí)，這種邏輯機(jī)械耦合可以保證檢偏器轉(zhuǎn)至操作位置。
人體工學(xué)設(shè)計(jì)
Axio Lab.A1便于操作，只需一只手便可操控主要部件。以舒服的坐姿研究非常細(xì)微的結(jié)構(gòu)，并記錄每種材料缺陷，即便長(zhǎng)時(shí)間使用也不會(huì)感到疲勞。選擇適合于無(wú)畸變或錐光觀察的主機(jī)架以偏光觀察方式檢測(cè)雙折射材料。用于偏光顯微觀察的Axio Lab.A1配有中心定位式4位物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)。
技術(shù)參數(shù)：
| 光學(xué)系統(tǒng) | IC2S色差反差雙重校正光學(xué)系統(tǒng) |
| 照明裝置 | Halogen reflector lamp HAL 50/12V 50W, optional LED |
| 物鏡轉(zhuǎn)盤(pán) | 5 position nosepiece, for brightfield and darkfield, M27 |
| 載物臺(tái) | Mechanical stage, 75x30 mm, coaxial drive right side,anodized surface hardcoated specimen holder included |
| 觀察筒 | 2 positions; 25 mm diameter |
| 物鏡 | N-ACHROPLAN、EC Plan-NEOFLUAR、Plan-APOCHROMAT、C-APOCHROMAT 和 FLUAR |
| 目鏡 | PL 10x/20 Br. foc.PL 10x/22 Br. foc. |
| 選配裝置 | 暗場(chǎng)、微分干涉、圓偏光微分干涉、簡(jiǎn)易偏光和熒光、相差、CCD成像 |
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